E04300 - SEMI E43 - Guide for Electrostatic Measurements on Objects and Surfaces Revision:SEMI E43-0301 - Superseded ポータブルで，相互運用可能な実装を提供するオープンスタンダード開発を促進する。

ポータブルで，相互運用可能な実装を提供するオープンスタンダード開発を促進する。

ID位置を2次元コード基準で位置を規定する。

originally published in 1983

SEMI M17-1110 (technical revision)

• Standard message dialogues necessary to achieve useful communications capabilities

E04300 - SEMI E43 - Guide for Electrostatic Measurements on Objects and Surfaces Revision:SEMI E43-0301 - Superseded ポータブルで，相互運用可能な実装を提供するオープンスタンダード開発を促進する。1 Purpose 1. 1 The purpose is to provide guidance for reproducible electrostatic measurements on any surface or object, consistent with the scope and limitations set forth below. 2 Scope 2. 1 The measurement methods described herein can be applied to characterize the general electrostatic charge, voltage, field level(s), and electrostatic discharge (ESD) on objects and surfaces in semiconductor manufacturing environments. Acceptable equipment,